ZEMAX 13R2 SP4破解版(含破解补丁)-Zemax 13R2 SP4破解版

ZEMAX是一种广泛使用的光学设计软件，由美国Zemax公司开发。是光学仿真模拟软件的鼻祖，这个版本提供了70多个新的功能，增强和性能改善。可以执行标准序列光学元件光线追踪，非连续光学元件杂散光追踪，以及物理光学光束传播。可以用来设计和分析光学系统。还可以执行标准序列光学元件光线追踪，非连续光学元件杂散光追踪，以及物理光学光束传播。其中求解是主动调整特定值的函数。可以在曲率，厚度，玻璃，半径，圆锥和参数上指定求解。通过双击希望放置解决方案的单元格来设置解决方案。出现求解类型控制屏幕。从下拉列表中选择解决方案类型。一些解决方案需要额外的参数。下表中总结了可用的求解和所需的参数。参数也可能具有“固定”或“可变”状态;这些都不是解决办法，但是，它们是为了完整而列出的。要关闭解决方案，请从下拉列表中选择“固定”选项。请注意，这只是关闭解决方案，它不会更改最后一个值。在解决的参数上按下Ctrl-Z两次并移动光标也会消除任何解决方法，这是更快的方法。有一个层次来解决计算问题。从第一个表面到图像表面按顺序计算求解：曲率，厚度，玻璃，半径，圆锥，然后是参数。由于曲率和厚度的求解会影响入射光瞳位置，因此ZEMAX不允许将依赖于光线追踪的求解（例如边缘光线高度求解）放置在光圈表面之前。这将避免解决参数的模糊或不正确的设置。没有办法预测在停止之前放置的解决方案的结果。当在最后一个表面上使用边缘光线解决方案来控制焦距时，会出现类似的问题 - 光圈定义必须是入射瞳孔直径（而不是F /＃）以保持解决方案的独特性。求解效率很高，在优化时应尽可能使用而不是变量。例如，通常最好在最后一个曲面上设置曲率求解来控制有效焦距，而不是明确地优化焦距。ZEMAX支持用于定义评价函数的优化操作数。每个操作数可以被分配一个权重，该权重指示该操作数的相对重要性，以及目标，该目标是该操作数的期望值。

安装破解教程

1、下载数据包然后解压，双击“Zemax_2014-08-20_x64.exe”按提示点击next

2、勾选同意协议然后点击next

3、选择创建桌面快捷方式然后点击next

4、点击install进入安装

5、软件正在安装，请耐心等待

6、安装完成，点击finish

7、安装完成到桌面找到软件单击鼠标右键——打开文件位置

8、将提供的破解补丁复制到上一步打开的文件目录下替换原文件即可

软件功能

1.镜头设计与制造业相结合
全新的光学机械半直径功能，可以对透镜机械装配边缘区及镀膜区进行控制，提高了仿真与建模能力。如今光学设计工程师能够灵活准确的对除镜头净通光口径之外的区域进行绘图。
2.精确仿真光机性能
全新的非序列元件（NSC）转换工具，通过创建视场点和探测器来模拟非序列模式下的光学性能，将序列模式转换为非序列模式。如今光学设计工程师能够快速便捷地分析光机设计的杂散光和散射。
3.序列和非序列模式间无缝转换
最新的锁定设计功能与特定光线生成器能够用于对比序列与非序列文件转换偏差，及将最后的设计定型用于加工，无需额外的辅助校对。
4.更快地分析衍射面和全息图
惠更斯PSF球面波参考，在惠更斯PSF的计算中分析光束文件，并支持球面波参考，使得PSF在聚焦时计算更加准确，分析离散衍射以及全息图表面更快速。
5.检测任何物体上的光线分布
全新的物体属性功能，包含能够检测任何物体光线的复选框选项，同时能够在实体模型，或在探测器中显示查看。如今用户能够直观地优化目标，包括多个物体的复杂区域照明优化。
6.单用户软件许可证
为单用户提供了软件授权管理模式，从而彻底摆脱了硬件key的束缚。如今新用户无需再担心秘钥的丢失，而现有用户也能够升级成为软件加密。
7.扩充的材料目录
扩展更新了一些新材料库，如LuxExcel材料库，可支持3D光学打印；新增的日本结晶光学（Nihon Kessho Kogaku）材料目录，更新了Schott及成都光明等供应商的最新玻璃库。

软件特色

1、股票镜头匹配工具
节省时间，降低制造成本。股票镜头匹配工具迅速找到最好的商业可用镜头为您的设计。从30多个库存镜头目录中选择进行设计匹配分析。找出关键的系统约束，如镜头直径和焦距，并容易地转换自定义设计镜头成为最好的商业当量，只要一次点击。
2、双向散射分布函数(BSDF)材料模型库
无与伦比的仿真精度。利用实测BSDF散射模型的综合库，消除了估算材料散射系数时产生的误差。从广泛的工程材料中选择，或者通过简单地加载散射模型来快速评估新材料。
3、非顺序源衍射工具
根据夫琅和费衍射理论，精确地模拟了微光学系统中的衍射模型，并根据夫琅和费衍射理论对微光学光阑、反射镜和其他小光学元件的照明进行了计算。
4、非序贯分析的网格梯度指数
NSC中的网格梯度指数模型将光学材料特性定义为三维精确分析，是有限元分析的理想方法，且易于使用测量数据。